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                SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子

                簡(jiǎn)要描述:SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子:
                MSP Corporation 的 NanoSilica&amp;trade;Size Standards 是 SiO2顆粒的濃縮水懸浮液,具有高度均勻的尺寸分布。
                這些粒徑標(biāo)準(zhǔn)目前提供的標(biāo)稱尺寸范圍為 15 至 200 nm,非常適合為下一代晶圓和光掩模檢測(cè)系統(tǒng)生產(chǎn)高質(zhì)量校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。

                • 產(chǎn)品型號(hào):
                • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
                • 更新時(shí)間:2022-08-08
                • 訪  問(wèn)  量:1797

                詳細(xì)介紹

                SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子

                Nanosilica-with-particle-sample.jpg

                SiO2標(biāo)準(zhǔn)粒子

                納米二氧化硅尺寸標(biāo)準(zhǔn)

                MSP Corporation NanoSilica™Size Standards SiO2顆粒的濃縮水懸浮液,具有高度均勻的尺寸分布。

                這些粒徑標(biāo)準(zhǔn)目前提供的標(biāo)稱尺寸范圍為 15 200 nm,非常適合為下一代晶圓和光掩模檢測(cè)系統(tǒng)生產(chǎn)高質(zhì)量校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)。

                雖然 MSP 23000NPT 系列和 2300G3 系列粒子沉積系統(tǒng)為表面缺陷校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的生產(chǎn)提供了最佳結(jié)果,但較舊的 MSP 系統(tǒng)和其他制造商的系統(tǒng)也適用于納米二氧化硅尺寸標(biāo)準(zhǔn)。

                特征

                + 極其均勻的尺寸分布

                我們的納米二氧化硅尺寸標(biāo)準(zhǔn)采用獲得** SiO2合成工藝開(kāi)發(fā),其尺寸分布比市售的 PSL 球更窄。

                + 使用 SI 可追溯性測(cè)量的峰直徑

                允許產(chǎn)量提高和計(jì)量小組根據(jù) ISO 9000 標(biāo)準(zhǔn)和 SEMI 指南建立其檢查和缺陷審查方法的可追溯性。

                + 受到強(qiáng)烈 DUV 輻射時(shí)穩(wěn)定

                MSP SiO2顆粒在暴露于 DUV 輻射時(shí)不會(huì)降解,這與 PSL 球體不同,PSL 球體的尺寸會(huì)減小。

                + 易于使用

                NanoSilica 顆粒懸浮液在滴管瓶中提供,以便在您的應(yīng)用中混合具有適當(dāng)數(shù)量濃度的懸浮液時(shí)使用方便。

                + 高粒子濃度

                一些應(yīng)用需要高濃度。 MSP 的顆粒濃度是業(yè)內(nèi)最高的之一。

                + 輕松辨別模態(tài)(峰值)直徑

                + 避免由于平均和峰值直徑值之間的差異而導(dǎo)致的差異

                + 制備適用于效率相對(duì)較高或較低的氣溶膠產(chǎn)生裝置的稀釋懸浮液

                + 為***的檢測(cè)工具創(chuàng)建持久的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

                + 消耗更少的材料;存錢

                + 隨附校準(zhǔn)和可追溯性證書以及帶有處理和處置說(shuō)明的安全數(shù)據(jù)表 (SDS)

                型號(hào)

                目錄編號(hào)

                標(biāo)稱粒徑 [nm]

                認(rèn)證1峰值直徑 [nm]

                大約

                Size Dist. Width, RFWHM2

                1044

                NS-0015A

                15

                14-16

                13%

                1046

                NS-0018A

                18

                17-19

                12%

                1047

                NS-0020A

                20

                19-21

                11%

                1048

                NS-0024A

                24

                23-25

                10%

                1075

                NS-0027A

                27

                26-28

                9%

                1049

                NS-0030A

                30

                29-31

                8%

                1079

                NS-0032A

                32

                31-33

                7%

                1062

                NS-0035A

                35

                34-36

                7%

                1076

                NS-0037A

                37

                36-38

                6%

                1051

                NS-0040A

                40

                39-41

                6%

                1063

                NS-0045A

                45

                44-46

                5%

                1052

                NS-0050A

                50

                49-51

                5%

                1077

                NS-0055A

                55

                53-57

                5%

                1053

                NS-0060A

                60

                58-62

                4%

                1067

                NS-0064A

                64

                62-66

                4%

                1054

                NS-0070A

                70

                68-72

                4%

                1068

                NS-0074A

                74

                72-76

                4%

                1055

                NS-0080A

                80

                78-82

                4%

                1069

                NS-0084A

                84

                82-86

                4%

                1057

                NS-0090A

                90

                88-92

                4%

                1070

                NS-0094A

                94

                92-96

                4%

                1058

                NS-0100A

                100

                98-102

                4%

                1071

                NS-0104A

                104

                102-106

                4%

                1059

                NS-0125A

                125

                120-130

                4%

                1060

                NS-0150A

                150

                145-155

                4%

                1061

                NS-0200A

                200

                190-210

                4%

                1給定目錄號(hào)的認(rèn)證直徑將在規(guī)定范圍內(nèi)提供。

                2相對(duì)半高寬(半高全寬); FWHM 除以模態(tài)直徑。

                規(guī)格

                粒子組成

                無(wú)定形SiO2

                粒子密度

                1.9 /3

                折射率

                633納米時(shí)為1.41

                體積

                5

                專注

                每毫升 1013 1015顆粒

                截止日期

                ≥ 24 個(gè)

                添加劑

                乙醇(按質(zhì)量計(jì) 5-20%

                有機(jī)穩(wěn)定劑(<0.1% 質(zhì)量

                儲(chǔ)存和處理

                在室溫下儲(chǔ)存(參見(jiàn)校準(zhǔn)和可追溯性證書

                更多詳情。

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                NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是由MSP Corporation制作的高度均勻尺寸SiO2微粒子濃縮水溶液,微粒子尺寸從18nm200nm都可選擇,是市面上***、高質(zhì)量的校正標(biāo)準(zhǔn),適用于最新一代的晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)。

                ***的半導(dǎo)體檢查技術(shù)已經(jīng)發(fā)展到小于30nm,以往使用Polystyrene latex (PSL)球形化粒子即可做晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)及光罩檢查系統(tǒng)的校正,但新一代的檢查系統(tǒng)使用到Deep ultraviolet (DUV) or Extreme ultraviolet (EUV)才能檢查小于20nm的污染或缺陷,當(dāng)UV光重復(fù)打在PSL球形化粒子上,將影響到PSL球形化粒子的質(zhì)量; 由于SiO2微粒子在DUVEUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)定的質(zhì)量,因此SiO2微粒子是最佳的替代產(chǎn)品。

                NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是使用有**SiO2合成技術(shù),可以做到如PSL球形化粒子一樣的尺寸分布,從目前最小的微粒子尺寸來(lái)看,NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是尺寸最均勻,適合做尺寸大小峰值的量測(cè)的工具。

                NIST-traceable NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液是MSP Corporation透過(guò)National Institute of Standards and Technology (NIST)追溯到標(biāo)準(zhǔn)單位的產(chǎn)品,加上ISO 9000SEMI的認(rèn)證,讓良率提升及表面檢查和缺陷評(píng)估有所依據(jù)。

                NanoSilica™ 微粒子標(biāo)準(zhǔn)溶液使用15-mL滴定,讓使用者操作更方便。每一瓶溶液的卷標(biāo)皆標(biāo)示產(chǎn)品編號(hào)、生產(chǎn)編號(hào)、微粒子尺寸峰值、尺寸分布半高寬及有效期限,而且提供NIST-traceable證明書與Material Safety Data Sheet (MSDS)說(shuō)明書。

                產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
                尺寸大小分布均勻
                •NIST traceability 的尺寸大小
                •DUVEUV的照射下?lián)碛蟹€(wěn)定的質(zhì)量
                高濃縮度微粒子懸浮溶液

                產(chǎn)品效益
                易于微粒子撒粒系統(tǒng)、晶圓表面污染/缺陷檢查系統(tǒng)或各類分析儀器偵測(cè)與量測(cè)尺寸峰值
                可避免平均尺寸與尺寸峰值的差異性
                適合氣膠產(chǎn)生設(shè)備使用
                提供耐久校正標(biāo)準(zhǔn)給*進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備使用
                省錢而且耗用量少



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